EOJ-1-17-芯片测试

Description

有n（2≤n≤20）块芯片，有好有坏，已知好芯片比坏芯片多。

每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好或是坏的测试结果（即此结果与被测试芯片实际的好坏无关）。

给出所有芯片的测试结果，问哪些芯片是好芯片。

Input

输入数据第一行为一个整数n，表示芯片个数。

第二行到第n+1行为n*n的一张表，每行n个数据。表中的每个数据为0或1，在这n行中的第i行第j列（1≤i, j≤n）的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果，1表示好，0表示坏，i=j时一律为1（并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试）。

Output

按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号

Sample Input 1

Sample Output 1

1 3

Code

#include <iostream>
using namespace std;

int arr[20][20];
int main(){
  int n;
  scanf("%d",&n);
  int i,j;
  for(i=0;i<n;i++){
  	for(j=0;j<n;j++){
    	scanf("%d",&arr[i][j]);
    }
  }
  
  int cnt[20]={0};
  //注意，好芯片比坏芯片多
  
  for(i=0;i<n;i++){
  	for(j=0;j<n;j++){
    	cnt[i]+=arr[j][i];
    }
    //减去每个芯片自检都为1的结果，因为好芯片比坏芯片多，剩下的数量肯定大于等于半数
    cnt[i]--;
  }
  
  for(i=0;i<n;i++){
  	if(cnt[i]>=n/2){
    	printf("%d",i+1);
      	if(i!=n-1)
          printf(" ");
    }
  }
  
  return 0;
}